Optymalizacja odległości unoszenia sensora i śledzenia powierzchni dla profesjonalistów
Omówienie ograniczeń sprzętowych podkładek szklanych, matematyki DPI/szybkości odpytywania oraz kalibracji w celu wyeliminowania nieregularności śledzenia spowodowanych zużyciem PTFE lub degradacją podkładki.
































